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Indústria Diversa

Difratómetro de Raio X

O Difratómetro de Raios X “Enhanced Mini-Materials Analyzer” incorpora o último design e tecnologia aplicados na investigação de materiais indústriais.

  • Amostrador horizontal, essencial para câmaras para amostras com elevada temperatura;
  • Feixes paralelos intercambiáveis e focalizados, raios variáveis, detetores múltiplos, sistemas óticos intercambiáveis e vários amostradores diferentes;
  • Controlador microprocessador que permite 8 eixos simultaneamente e comunicação por Ethernet.
  • Novo sistema ótico de feixes primários com as seguintes características: espelho com focal para os modos de transmissão e capilar;
  • Novos desenvolvimentos no software - inclui um “accessory picker” que permite a re-calibração instantânea após troca de algum componente para XRD visual.
  • Detetor de estado sólido de díodos PIN refrigerado por efeito de Peltier. Este detetor oferece 3 a 4 vezes melhor sensibilidade que o detetor tradicional de Xe com um monocromador curvo de grafite cristalizada;

De momento não existe informação disponível


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